Проход по ссылкам навигацииГлавная : Статьи

/

Функциональные узлы

Пробник оксидных конденсаторов

Ключевые слова: ZQ1
Схема рис.1: Надежность полупроводниковых приборов в современной аппаратуре возросла настолько, что на первое место по числу дефектов вышли оксидно-электролитические конденсаторы [1]. Связано это с наличием в них электролита. Воздействие повышенной температуры, рассеивание в конденсаторе мощности потерь, разгерметизация в уплотнениях корпуса приводят к пересыханию электролита. Идеальный конденсатор при работе в цепи переменного тока имеет только реактивное (емкостное) сопротивление. Ре
Страница 7 из 7 (всего 61)Prev123456[7]Next